Für diesen Artikel ist leider kein Bild verfügbar.

2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report

IEEE Electron Devices Society (Autor)

Buch | Softcover

200 Seiten

2000 | 2000 ed.
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7803-6392-2 (ISBN)

Titel ist leider vergriffen;
keine Neuauflage

Artikel merken

A final report on the IEEE International Integrated Reliability Workshop 2000. It covers: water level; reliability; test and test approaches; identification of reliability; effects; characterization and prediction; models to show; reliability test structures; designing in reliability; and more.

Erscheint lt. Verlag	31.3.2001
Verlagsort	Piscataway NJ
Sprache	englisch
Maße	216 x 279 mm
Themenwelt	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
Themenwelt	Technik ► Maschinenbau
ISBN-10	0-7803-6392-2 / 0780363922
ISBN-13	978-0-7803-6392-2 / 9780780363922
Zustand	Neuware