IEEE VLSI Test Symposium

IEEE Computer Society (Autor)

Buch | Softcover

500 Seiten

2000 | 2000, 18th ed.
I.E.E.E.Press (Verlag)
978-0-7695-0613-5 (ISBN)

Keine Verlagsinformationen verfügbar

Artikel merken

These papers constitute the proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium 2000. Subjects covered include: microprocessor test/validation; low power BIST and scan; defect driven techniques; analogue test techniques; temperature and process drift issues; and more.

Erscheint lt. Verlag	31.5.2000
Verlagsort	Piscataway NJ
Sprache	englisch
Themenwelt	Mathematik / Informatik ► Informatik ► Theorie / Studium
	Informatik ► Weitere Themen ► Hardware
	Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik
ISBN-10	0-7695-0613-5 / 0769506135
ISBN-13	978-0-7695-0613-5 / 9780769506135
Zustand	Neuware