Design-For-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems
Seiten
2004
Pearson Education India (Verlag)
978-81-317-1789-9 (ISBN)
Pearson Education India (Verlag)
978-81-317-1789-9 (ISBN)
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Verlagsort | Delhi |
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Sprache | englisch |
Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
ISBN-10 | 81-317-1789-5 / 8131717895 |
ISBN-13 | 978-81-317-1789-9 / 9788131717899 |
Zustand | Neuware |
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