Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X
24-25 January 2011, San Francisco, California, United States
Seiten
2011
|
New ed.
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8465-9 (ISBN)
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8465-9 (ISBN)
- Keine Verlagsinformationen verfügbar
- Artikel merken
| Erscheint lt. Verlag | 15.5.2011 |
|---|---|
| Zusatzinfo | illustrations |
| Verlagsort | Bellingham |
| Sprache | englisch |
| Maße | 152 x 229 mm |
| Themenwelt | Technik ► Elektrotechnik / Energietechnik |
| ISBN-10 | 0-8194-8465-2 / 0819484652 |
| ISBN-13 | 978-0-8194-8465-9 / 9780819484659 |
| Zustand | Neuware |
| Haben Sie eine Frage zum Produkt? |
