Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing IV
2-4 August 2010, San Diego, California, United States
Seiten
2010
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8263-1 (ISBN)
SPIE Press (Hersteller)
978-0-8194-8263-1 (ISBN)
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| Erscheint lt. Verlag | 15.11.2010 |
|---|---|
| Zusatzinfo | illustrations |
| Verlagsort | Bellingham |
| Sprache | englisch |
| Maße | 152 x 229 mm |
| Themenwelt | Technik |
| ISBN-10 | 0-8194-8263-3 / 0819482633 |
| ISBN-13 | 978-0-8194-8263-1 / 9780819482631 |
| Zustand | Neuware |
| Informationen gemäß Produktsicherheitsverordnung (GPSR) | |
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